Az önálló laboratóriumi téma keretében a hallgató csatlakozna a Tanszéken folyó egyik kutatáshoz, melynek célja újszerű, érintésmentes karakterizációs eljárások kidolgozása napelemcellák minősítésére. A kutatás célja egy, a rezgőkondenzátoros Kelvin-mérőfejes módszeren alapuló, nagyfelbontású mérési eljárás kidolgozása, amely alkalmas a mérési pontokban a teljes napelem karakterisztika felvételére. Az eljáráshoz fejlesztendő berendezés központi eleme egy billenő MEMS eszköz, melynek egyik oldalát elektrosztatikus elven mozgatva mérnénk a másik oldalon történő potenciálváltozást. A hallgató a fejlesztés első fázisába kapcsolódna be, melynek során FEM szimulációk és analitikus számítások segítségével paraméterezné az eszközt a megfelelő gyártástechnológiára.